有些用戶(hù)認為冷熱沖擊試驗箱與快速溫變試驗箱在某些特定條件下可以共用，比如：溫度沖擊測試條件是-40℃~85℃，溫度恢復時(shí)間5min以?xún)?，高低溫駐留時(shí)間30min。如果快速溫變箱的溫變速率能達到25℃/min以上，他們認為也滿(mǎn)足溫度恢復時(shí)間5min以?xún)鹊囊?，就可以代替冷熱沖擊箱。但據我們實(shí)際測試的情況看，還是有很大差異的，尤其是冷熱沖擊箱的瞬間降溫和升溫速率，是遠遠高于25℃/min的，一般都達到35℃/min以上，造成的失效模式是*不一樣的，所以不建議用快速溫變箱代替。
要知道每個(gè)用戶(hù)測試產(chǎn)品不同，測試的階段和目的也不相同，以至于對這兩種測試方法存在很多不同的見(jiàn)解。我們就做一個(gè)表格協(xié)助客戶(hù)區別一下。
項目 | 冷熱沖擊試驗 |
快速溫變（環(huán)境應力篩選ESS）
| 備注 |
試驗目的 | 主要考核試件在溫度瞬間急劇變化一定次數后,檢測試樣因熱脹冷縮)所引起的化學(xué)變化或物理破壞 | 利用外加的環(huán)境應力，使潛存于電子產(chǎn)品研發(fā)、設計、生產(chǎn)制程中，因不良元器件、制造工藝和其它原因等所造成的早期故障提早發(fā)生而暴露出來(lái)，給予修正和更換 | 試驗目的不一樣 |
測試階段 | 主要在研發(fā)設計階段,試制階段 | 主要在量產(chǎn)階段 | 階段不一樣 |
測試對象 | 主要用于測試材料結構或復合材料，現在用的zui多的還是電子產(chǎn)品的元器件或者組件級（如PCBA,IC） | 主要適用于電子產(chǎn)品的元器件級，組件級和設備級 | 冷熱沖擊很少用于做設備級 |
溫度變化速率要求 | 無(wú)溫變速率指標,但要求溫度恢復時(shí)間，參考點(diǎn)一般在出風(fēng)口，國內外標準都要求5min以?xún)?，越快越好；也有標準要求在產(chǎn)品表面量測，溫度恢復時(shí)間在15min以?xún)?/span> | 為了增強篩選效果，常見(jiàn)快速溫變箱建議選擇溫變速率為10~25℃/min，且溫變速率可控； |
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樣品失效模式 | 由于材料蠕變（及疲勞損傷引起的失效，也稱(chēng)脆性失效 | 由于材料疲勞引起的失效 | 失效模式不一樣 |
常見(jiàn)故障現象 | 如零部件的變形或破裂，絕緣保護層失效，運動(dòng)部件的卡緊或松弛電氣和電子元器件的變化，快速冷凝水或結霜引起電子或機械故障 | 如涂層、材料或線(xiàn)頭上各種微裂紋擴大；使粘結不好的接頭松馳；使螺釘連接或鉚接不當的接頭松馳；材料熱膨脹系數不同產(chǎn)生的變形和應力引起的故障,使固封材料絕緣下降；使機械張力不足的壓配接頭松馳；使質(zhì)差的釬焊接觸電阻加大或造成開(kāi)路；使運動(dòng)件及密封件故障 |
從故障現象看上看二者有一些相同之處 |
參考標準 | JESD22-A106B GJB-150-A MIL-STD-810G MIL-STD-202G | JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85 IEC60749-25 |
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設備選擇 | a.對元器件（電容、電感、IC），板卡的中小尺寸產(chǎn)品，*選擇提籃式冷熱沖擊，測試效果更嚴苛 b.對超大尺寸產(chǎn)品，如液晶電視或者重型產(chǎn)品，建議選擇三箱式會(huì )更適合 c.如果遇到重型產(chǎn)品，而且尺寸也比較大，同時(shí)要求過(guò)沖小，可選擇水平式提籃冷熱沖擊箱做參考 d．除霜周期要求 | a.設備尺寸大小，常見(jiàn)尺寸400L, 800L, 1000L或定制 b．實(shí)際測試溫度范圍（如: -40℃~85℃），同時(shí)也要求設備全程溫度范圍（如：-70℃~190℃） c.溫變速率要求；是線(xiàn)性溫變速率還是平均溫變速率；如有帶載溫變速率要求，要明確帶載情況，包括靜態(tài)負載（通常拿鋁錠做參考）和熱負載（產(chǎn)品帶電發(fā)熱） d.驗收標準（如: IEC-60068-3-5 和GB/T 5170） |
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