在電子產(chǎn)品在加工過(guò)程中，由于經(jīng)歷了復雜的加工和元器件物料的大量使用，無(wú)論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。 而潛在缺陷導致產(chǎn)品暫時(shí)可以使用，但在使用中缺陷會(huì )很快暴露出來(lái)，產(chǎn)品不能正常工作。潛在缺陷則無(wú)法用常規檢驗手段發(fā)現，而是運用老化的方法來(lái)剔除。 如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將最終在產(chǎn)品運行期間以早期失效（或故障）的形式表現出來(lái)，從而導致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加。 為了達到滿(mǎn)意的合格率，幾乎所有產(chǎn)品在出廠(chǎng)前都要先藉由老化，而老化（Burn in）是指在一定的環(huán)境溫度下、較長(cháng)的時(shí)間內對元器件連續施加環(huán)境應力，而環(huán)境應力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應力，還包括其他很多應力，例如溫度循環(huán)、隨機振動(dòng)等，通過(guò)電-熱應力的綜合作用來(lái)加速元器件內部的各種物理、化學(xué)反應過(guò)程，促使隱藏于元器件內部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。
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